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關于X射線熒光光譜儀重要作用介紹
更新時間:2023-07-12
技術文章
X射線熒光光譜儀(XRF)通過激發源(X射線管)產生入射X射線(一次X射線),這些入射X射線能夠激發被測樣品,產生X熒光(二次X射線)。探測器隨后對產生的X熒光進行檢測,從而實現對物質的化學元素、物相、化學立體結構、物證材料等進行測試。此外,X射線熒光光譜分析技術不僅是一種快速、準確而又經濟的多元素分析方法,還被用于無損檢測產品和材料質量,以及微電路的光刻檢驗等。因此,X射線熒光光譜儀在冶金、地質、礦物、石油、化工、生物、考古等諸多部門和領域中發揮著重要作用。
X射線熒光光譜儀基于X射線的原理工作。在這種儀器中,X射線管產生高能的X射線,經過樣品時會被樣品中的原子吸收和散射,并重新發射出一系列的X射線熒光。這些熒光信號進入探測器并被轉換為電信號,從而得到元素的種類和含量信息。
此外,X射線熒光光譜儀的測量線性誤差和測量重復性等指標,以及不同元素具有波長不同的特征X射線譜線的特性,使得該儀器能夠進行定性和定量分析,進一步擴展了其應用范圍和準確性。由于其便攜性和現場分析能力,X射線熒光光譜儀也是野外現場分析和過程控制分析等方面的儀器之一。
X射(she)線(xian)管(guan)是(shi)X射(she)線(xian)熒光(guang)(guang)光(guang)(guang)譜(pu)儀的(de)(de)核心部件(jian),它(ta)能夠產生高能量(liang)(liang)的(de)(de)X射(she)線(xian)。樣品支架(jia)則是(shi)將(jiang)樣品放置(zhi)在固(gu)定位(wei)置(zhi),確(que)保X射(she)線(xian)的(de)(de)照(zhao)射(she)位(wei)置(zhi)和(he)角度都是(shi)一致的(de)(de)。熒光(guang)(guang)探測(ce)(ce)器(qi)(qi)則是(shi)用(yong)來測(ce)(ce)量(liang)(liang)熒光(guang)(guang)輻射(she)的(de)(de)強(qiang)度和(he)能量(liang)(liang)的(de)(de),通常采用(yong)固(gu)態半導(dao)體探測(ce)(ce)器(qi)(qi)。信號處(chu)理器(qi)(qi)用(yong)來對測(ce)(ce)量(liang)(liang)到的(de)(de)信號進(jin)行分析和(he)處(chu)理,以(yi)獲取所需的(de)(de)數據(ju)。數據(ju)處(chu)理器(qi)(qi)則將(jiang)處(chu)理后的(de)(de)數據(ju)進(jin)行進(jin)一步分析和(he)解釋。
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